DIN 50430-1980 无机半导体材料的检验.用双探针直流法测定硅和锗的棒状单晶体的比电阻

作者:标准资料网 时间:2024-04-29 17:45:13  浏览:9144   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;measurementoftheelectricalresistivityofsiliconorgermaniumsinglecrystalsinbarsbymeansofthetwo-point-probedirectcurrentmethod
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.用双探针直流法测定硅和锗的棒状单晶体的比电阻
【标准号】:DIN50430-1980
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1980-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;锗;半导体;硅;试验;测量;直流电流;输入阻抗;面积
【英文主题词】:area;germanium;testing;semiconductors;inputimpedance;measurement;definitions;directcurrent;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:1660
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语